2009-2015 ©
             ข้อมูลการเผยแพร่ผลงาน
การเผยแพร่ในรูปของบทความวารสารทางวิชาการ
ชื่อบทความที่เผยแพร่ Shrinking Size Effects of TMR and CPP-GMR Heads: Failure Phenomena Caused by Electrostatic Discharge Aspects 
วัน/เดือน/ปี ที่เผยแพร่ 9 มกราคม 2555 
การประชุม
     ชื่อการประชุม The 4th International Data Storage Technology Conference 
     หน่วยงาน/องค์กรที่จัดประชุม The Board of Investment of Thailand (BOI), National Science and Technology Development Agency (NSTDA), Hard Disk Drive Institute (HDDI), I/U CRC in HDD Component 
     สถานที่จัดประชุม IMPACT Convention Center (Hall 9) Muangthong Thani 
     จังหวัด/รัฐ Nonthaburi 
     ช่วงวันที่จัดประชุม 9 มกราคม 2555 
     ถึง 10 มกราคม 2555 
Proceeding Paper
     Volume (ปีที่) 2011 
     Issue (เล่มที่)
     หน้าที่พิมพ์ 252-255 
     Editors/edition/publisher  
     บทคัดย่อ This work presents the tolerance of TMR and CPP-GMR heads to ESD events when the sizes of both reader technologies are shrinking. The shrinking size effect actually indicates the growth of AD targeting to Tb/in2. Blocking temperature, melting temperature, and electric field breakdown of the oxide layer are the key parameters for investigation upon the temperature increment of TMR and CPP-GMR heads caused by ESD current. The investigation was carried out by using a finite element analysis, solver and simulation software. The results reveal that at 30% shrinking size, TMR is 15% less tolerance to ESD phenomena than CPP-GMR technology for the case of hard failure. On the other hand, CPP-GMR is approximately 10% more sensitive to ESD event than TMR technology for the case of soft failure case. 
ผู้เขียน
525040001-6 น.ส. คนึงนิจ มะโรงมืด [ผู้เขียนหลัก]
คณะวิศวกรรมศาสตร์ ปริญญาโท ภาคปกติ

การประเมินบทความ (Peer Review) มีผู้ประเมินอิสระ 
มีการเผยแพร่ในระดับ นานาชาติ 
รูปแบบ Proceeding Full paper 
รูปแบบการนำเสนอ Oral 
เป็นส่วนหนึ่งของวิทยานิพนธ์ เป็น 
ผลงานที่นำเสนอได้รับรางวัล ไม่ได้รับรางวัล 
แนบไฟล์
Citation 0