| ชื่อบทความที่เผยแพร่ |
How Does Electrostatic Discharge Event Not Cause Polarity Flip in TMR Read Heads? |
| วัน/เดือน/ปี ที่เผยแพร่ |
10 พฤษภาคม 2555 |
| การประชุม |
| ชื่อการประชุม |
the International Magnetics Conference, INTERMAG 2012 |
| หน่วยงาน/องค์กรที่จัดประชุม |
The Magnetics Society of the Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| สถานที่จัดประชุม |
Vancouver |
| จังหวัด/รัฐ |
Canada |
| ช่วงวันที่จัดประชุม |
7 พฤษภาคม 2555 |
| ถึง |
11 พฤษภาคม 2555 |
| Proceeding Paper |
| Volume (ปีที่) |
2012 |
| Issue (เล่มที่) |
- |
| หน้าที่พิมพ์ |
- |
| Editors/edition/publisher |
|
| บทคัดย่อ |
Electrostatic Discharge (ESD) current causes both soft and hard failures on GMR read head technology; however, the current head technology such TMRs, the soft failure phenomenon such magnetization reversal has not been well understood. The previuos published work only state that the soft failure does not occur on TMR technology; however nonhas pinpointed the cause a magnetization reversal on TMR read head instead ESD event likely induces only hard failure on TMRs. The explanation of this mechanism was conducted by investigating the important parameters such as Blocking temperature (TB), Neel temperature (TN), Curie temperature (TC), and Electric Field Breakdown (EB) of a particular TMR head were mornitored while an ESD current being applied by using Finite Element simulator. The results reveal that the oxide breakdown at the insulator layer occurs at a lower level of ESD current; for example this particular TMR head the oxide breakdown occurs at ESD peak current of 4 mA while it requires 6 mA to causes a magnetization reversal. |
| ผู้เขียน |
|
| การประเมินบทความ (Peer Review) |
มีผู้ประเมินอิสระ |
| มีการเผยแพร่ในระดับ |
นานาชาติ |
| รูปแบบ Proceeding |
Abstract |
| รูปแบบการนำเสนอ |
Oral |
| เป็นส่วนหนึ่งของวิทยานิพนธ์ |
เป็น |
| ผลงานที่นำเสนอได้รับรางวัล |
ไม่ได้รับรางวัล |
| แนบไฟล์ |
|
| Citation |
0
|
|
|
ข้อมูลการเผยแพร่ผลงาน
การเผยแพร่ในรูปของบทความวารสารทางวิชาการ
English