| ชื่อบทความ |
Shrinking Size Effects of CPP-TMR and CPP-GMR Heads: Failure Phenomena Caused by Electrostatic Discharge |
| วัน/เดือน/ปี ที่ได้ตอบรับ |
15 มีนาคม 2555 |
| วารสาร |
| ชื่อวารสาร |
KKU Research Journal |
| มาตรฐานของวารสาร |
|
| หน่วยงานเจ้าของวารสาร |
Khon Kaen University |
| ISBN/ISSN |
|
| ปีที่ |
|
| ฉบับที่ |
|
| เดือน |
|
| ปี พ.ศ. ที่พิมพ์ |
2555 |
| หน้า |
|
| บทคัดย่อ |
This work presents the tolerance of CPP-TMR and CPP-GMR heads to ESD events
when the sizes of both reader technologies are shrinking. The shrinking size effect actually indicates the growth of AD targeting to Tb/in2. Blocking temperature, melting temperature,and electric field breakdown of the oxide layer are the key parameters for investigation upon the temperature increment of CPP-TMR and CPP-GMR heads caused by an ESD current. The investigation was carried out by using a finite element analysis, solver and
simulation software. The results reveal that at 30% shrinking size, CPP-TMR is 15% less tolerance to ESD phenomena than that of CPP-GMR technology for the case of hard failure aspect. On the other hand, CPP-GMR is approximately 10% more sensitive to ESD events than CPP-TMR technology for the case of soft failure aspect. |
| คำสำคัญ |
magnetoresistance, current perpendicular, electrostatic discharge, shrinking, failure |
| ผู้เขียน |
|
| การประเมินบทความ |
มีผู้ประเมินอิสระ |
| สถานภาพการเผยแพร่ |
ได้รับการตอบรับให้ตีพิมพ์ |
| วารสารมีการเผยแพร่ในระดับ |
ชาติ |
| citation |
มี |
| เป็นส่วนหนึ่งของวิทยานิพนธ์ |
เป็น |
| แนบไฟล์ |
|
| Citation |
0
|
|
|
ข้อมูลการเผยแพร่ผลงาน
การเผยแพร่ในรูปของบทความวารสารทางวิชาการ
English