2009-2015 ©
             ข้อมูลการเผยแพร่ผลงาน
การเผยแพร่ในรูปของบทความวารสารทางวิชาการ
ชื่อบทความ Shrinking Size Effects of CPP-TMR and CPP-GMR Heads: Failure Phenomena Caused by Electrostatic Discharge 
วัน/เดือน/ปี ที่ได้ตอบรับ 15 มีนาคม 2555 
วารสาร
     ชื่อวารสาร KKU Research Journal 
     มาตรฐานของวารสาร  
     หน่วยงานเจ้าของวารสาร Khon Kaen University 
     ISBN/ISSN  
     ปีที่  
     ฉบับที่  
     เดือน
     ปี พ.ศ. ที่พิมพ์ 2555 
     หน้า  
     บทคัดย่อ This work presents the tolerance of CPP-TMR and CPP-GMR heads to ESD events when the sizes of both reader technologies are shrinking. The shrinking size effect actually indicates the growth of AD targeting to Tb/in2. Blocking temperature, melting temperature,and electric field breakdown of the oxide layer are the key parameters for investigation upon the temperature increment of CPP-TMR and CPP-GMR heads caused by an ESD current. The investigation was carried out by using a finite element analysis, solver and simulation software. The results reveal that at 30% shrinking size, CPP-TMR is 15% less tolerance to ESD phenomena than that of CPP-GMR technology for the case of hard failure aspect. On the other hand, CPP-GMR is approximately 10% more sensitive to ESD events than CPP-TMR technology for the case of soft failure aspect. 
     คำสำคัญ magnetoresistance, current perpendicular, electrostatic discharge, shrinking, failure 
ผู้เขียน
525040001-6 น.ส. คนึงนิจ มะโรงมืด [ผู้เขียนหลัก]
คณะวิศวกรรมศาสตร์ ปริญญาโท ภาคปกติ

การประเมินบทความ มีผู้ประเมินอิสระ 
สถานภาพการเผยแพร่ ได้รับการตอบรับให้ตีพิมพ์ 
วารสารมีการเผยแพร่ในระดับ ชาติ 
citation มี 
เป็นส่วนหนึ่งของวิทยานิพนธ์ เป็น 
แนบไฟล์
Citation 0