| ชื่อบทความ |
Computational Simulation of a Field-Induced Charged Board Event Test Bench Using Transient Analysis |
| วัน/เดือน/ปี ที่ได้ตอบรับ |
5 มิถุนายน 2566 |
| วารสาร |
| ชื่อวารสาร |
IEEE Access |
| มาตรฐานของวารสาร |
ISI |
| หน่วยงานเจ้าของวารสาร |
IEEE |
| ISBN/ISSN |
- |
| ปีที่ |
|
| ฉบับที่ |
|
| เดือน |
|
| ปี พ.ศ. ที่พิมพ์ |
2566 |
| หน้า |
|
| บทคัดย่อ |
This study reported the computational simulation of a test bench prototype for a field-induced charged board event (FICBE) by using transient analysis. The discharge probe and its stray impedance were experimentally measured using an RLC circuit analyzed in the transient mode. The simulation revealed that the stray impedance could distort the FICBE discharge current waveform, which is very-high-peak-current, fast-rise-time waveform, and leads to noncompliance in test bench qualification. Furthermore, adding a ferrite bead could shape the discharge current to satisfy the standard waveform requirement. These findings could provide considerable insights for designing a FICBE test bench that satisfies waveform qualification requirements.
|
| คำสำคัญ |
Field-induced, Charged Board Model, Charged Board Event, and Circuit Simulation |
| ผู้เขียน |
|
| การประเมินบทความ |
มีผู้ประเมินอิสระ |
| สถานภาพการเผยแพร่ |
ได้รับการตอบรับให้ตีพิมพ์ |
| วารสารมีการเผยแพร่ในระดับ |
นานาชาติ |
| citation |
ไม่มี |
| เป็นส่วนหนึ่งของวิทยานิพนธ์ |
เป็น |
| แนบไฟล์ |
|
| Citation |
0
|
|
|
ข้อมูลการเผยแพร่ผลงาน
การเผยแพร่ในรูปของบทความวารสารทางวิชาการ
English