| ชื่อบทความที่เผยแพร่ |
The Computational Simulation of FICBE Test Bench Using Transient
Analysis Technique |
| วัน/เดือน/ปี ที่เผยแพร่ |
27 พฤศจิกายน 2562 |
| การประชุม |
| ชื่อการประชุม |
International Conference on Communication, Electronics and Electrical Engineering (ICCEEE) |
| หน่วยงาน/องค์กรที่จัดประชุม |
INTERNATIONAL SOCIETY FOR SCIENTIFIC RESEARCH AND DEVELOPMENT |
| สถานที่จัดประชุม |
Tokyo Bay Ariake Washington Hotel |
| จังหวัด/รัฐ |
Tokyo, Japan |
| ช่วงวันที่จัดประชุม |
27 พฤศจิกายน 2562 |
| ถึง |
27 พฤศจิกายน 2562 |
| Proceeding Paper |
| Volume (ปีที่) |
- |
| Issue (เล่มที่) |
- |
| หน้าที่พิมพ์ |
- |
| Editors/edition/publisher |
|
| บทคัดย่อ |
This work reports the computational simulation of the test-bench prototype for (Field Induced Charge Board Event) FICBE using the transient analysis technique. The discharge probe and its stray impedance had been simulated using RLC circuit analyzed in transient mode. The simulation revealed that the stray impedance could distort FICBE discharge current, which is very high peak current, fast rise time waveform, and lead the non-compliant in test bench qualification. In addition, the adding of a ferrite bead could shape the discharge current to meet the standard waveform requirement. These findings are beneficial to the FICBE test bench design guideline to meet the waveform qualification accurately. |
| ผู้เขียน |
|
| การประเมินบทความ (Peer Review) |
มีผู้ประเมินอิสระ |
| มีการเผยแพร่ในระดับ |
นานาชาติ |
| รูปแบบ Proceeding |
Full paper |
| รูปแบบการนำเสนอ |
Oral |
| เป็นส่วนหนึ่งของวิทยานิพนธ์ |
เป็น |
| ผลงานที่นำเสนอได้รับรางวัล |
ไม่ได้รับรางวัล |
| แนบไฟล์ |
|
| Citation |
0
|
|
|
ข้อมูลการเผยแพร่ผลงาน
การเผยแพร่ในรูปของบทความวารสารทางวิชาการ
English