| Abstract |
เสถียรภาพของคุณสมบัติความเป็นแม่เหล็กของหัวอ่านเมื่ออยู่ในสภาวะที่ได้รับความร้อนนั้นโดยส่วนมากจะพิจารณาเสถียรภาพของหัวอ่านระดับมหภาคหรือแบบทั้งชิ้น ซึ่งไม่สามารถวิเคราะห์เสถียรภาพได้ในระดับชั้นของแผ่นแม่เหล็กฟิล์มบาง งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์ในการตรวจสอบผลกระทบของความร้อนจากภายนอกต่อเสถียรภาพของความเป็นแม่เหล็ก (magnetization) ในชั้นอิสระ (Free layer, FL) และชั้นอ้างอิง (Reference layer, RL) /ชั้นตรึง (Pinned layer, PL) ของหัวอ่านชนิดทีเอ็มอาร์ (Tunneling magnetoresistance, TMR)โดยวิธีเฟร์โรแมกเนติกเรโซแนนซ์ (Ferromagnetic resonance, FMR) ช่วงความถี่ 0.2 GHz ถึง 10 GHz ซึ่งในงานวิจัยนี้ได้แสดงลักษณะเฉพาะของสัญญาณรบกวนของหัวอ่านที่ถูกให้ความร้อนจากลมร้อน (Hot air, HA) โดยอ้างอิงกับลักษณะเฉพาะของสัญญาณรบกวนของหัวอ่านที่อยู่ในสภาวะปกติ (Normal) การทดสอบประสิทธิภาพของหัวอ่านถูกแบ่งออกเป็น 2 เงื่อนไขดังนี้ (I) กรณีจ่ายสนามแม่เหล็ก 750 Oe ถึง 1,200 Oe ในระนาบเดียวกันกับทิศของแม่เหล็กถาวร(Hard bias, HB) ของหัวอ่าน (II) กรณีจ่ายสนามแม่เหล็ก 520 Oe ทิศทางขนานกับความเป็นแม่เหล็ก (Magnetization) ของชั้น RL ผลการทดลองสรุปได้ว่า เงื่อนไข (I) พบว่าหัวอ่านที่ได้รับความร้อนจะมีพีคแอมปลิจูดของสัญญาณรบกวนสูงกว่าระดับปกติ 2-3 เท่าปรากฏในย่านความถี่ประมาณ 9 GHz ซึ่งแสดงถึงความผันผวนทางแม่เหล็กของ RL/PL อันเนื่องมาจากความร้อนซึ่งทำให้ Exchange Bias Field (HEB) มีค่าลดลง ขณะที่สัญญาณรบกวนของหัวอ่านปกติจะมีสภาวะราบเรียบซึ่งแสดงถึงความเสถียรของ HEB ในเงื่อนไข (II) หัวอ่านที่ได้รับความร้อนภายนอกมีค่าเฉลี่ยของผลต่างแอมพลิจูดของสัญญาณรบกวนมากกว่าหัวอ่านปกติถึง 4.13 เท่า แสดงให้เห็นถึงการเกิดความไม่สมมาตร (Asymmetry) ซึ่งอาจจะเกิดจากคุณสมบัติทางแม่เหล็กที่เปลี่ยนไปของ HB อันเนื่องมาจากความร้อน |
Publication
Journal Publication
ไทย